Confocali – SEM – Rugosimetri
Tecmet2000 propone una selezione mirata di strumenti per analisi superfici pensati per garantire precisione, versatilità e innovazione nei settori della ricerca, dell’industria automotive, elettronica e dei materiali tecnologici. I sistemi offerti coprono sia la micro che la macro analisi, con dispositivi portatili, da laboratorio e a tecnologia confocale o SEM.
Sistemi confocali per analisi tridimensionale non distruttiva
Tra gli strumenti per analisi superfici Tecmet 2000, i sistemi confocali rappresentano una delle tecnologie più apprezzate per la loro capacità di acquisire immagini tridimensionali ad altissima risoluzione, ideali per il controllo topografico e metrologico in settori avanzati. Sono utilizzati con successo nell’automotive, nella microelettronica e nei laboratori di ricerca applicata.
Microscopio elettronico a scansione SEM con microsonda integrata
Una delle novità più interessanti è l’SEM compatto Semplor. Questo sistema combina l’efficienza di uno strumento desktop con le funzionalità di un’analisi SEM professionale, permettendo identificazione e caratterizzazione di superfici complesse, microstrutture e difetti con un approccio rapido e intuitivo, anche per campioni delicati o non conduttivi.
Microscopio digitale Scalar e rugosimetro Diavite per l’analisi portatile
La linea di strumenti per analisi superfici Tecmet2000 si completa con soluzioni più compatte e versatili:
Il microscopio digitale portatile Scalar consente di effettuare osservazioni dirette su superfici difficili da raggiungere, combinando mobilità e alta qualità di immagine.
Il rugosimetro Diavite, ideale per la misurazione della rugosità superficiale, è uno strumento preciso e intuitivo, perfetto per chi cerca un’alternativa maneggevole alle macchine da banco, mantenendo elevata affidabilità di misura.
Confocali – SEM – Rugosimetri
Tecmet2000 propone una selezione mirata di strumenti per analisi superfici pensati per garantire precisione, versatilità e innovazione nei settori della ricerca, dell’industria automotive, elettronica e dei materiali tecnologici. I sistemi offerti coprono sia la micro che la macro analisi, con dispositivi portatili, da laboratorio e a tecnologia confocale o SEM.
Sistemi confocali per analisi tridimensionale non distruttiva
Tra gli strumenti per analisi superfici Tecmet 2000, i sistemi confocali rappresentano una delle tecnologie più apprezzate per la loro capacità di acquisire immagini tridimensionali ad altissima risoluzione, ideali per il controllo topografico e metrologico in settori avanzati. Sono utilizzati con successo nell’automotive, nella microelettronica e nei laboratori di ricerca applicata.
Microscopio elettronico a scansione SEM con microsonda integrata
Una delle novità più interessanti è l’SEM compatto Semplor. Questo sistema combina l’efficienza di uno strumento desktop con le funzionalità di un’analisi SEM professionale, permettendo identificazione e caratterizzazione di superfici complesse, microstrutture e difetti con un approccio rapido e intuitivo, anche per campioni delicati o non conduttivi.
Microscopio digitale Scalar e rugosimetro Diavite per l’analisi portatile
La linea di strumenti per analisi superfici Tecmet2000 si completa con soluzioni più compatte e versatili:
Il microscopio digitale portatile Scalar consente di effettuare osservazioni dirette su superfici difficili da raggiungere, combinando mobilità e alta qualità di immagine.
Il rugosimetro Diavite, ideale per la misurazione della rugosità superficiale, è uno strumento preciso e intuitivo, perfetto per chi cerca un’alternativa maneggevole alle macchine da banco, mantenendo elevata affidabilità di misura.
